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淺析進行顆粒測試時出現(xiàn)的幾個基礎(chǔ)問題

[2012/12/18]

　　為了促進顆粒測試技術(shù)的普及與繁榮，對如下幾個顆粒測試的基礎(chǔ)性問題取得共識是必要的。

　　1)顆粒測試概念的內(nèi)涵：顆粒測試應該包含顆粒幾何形態(tài)測試、顆粒物理特性測試、顆粒化學特性測試幾個方面.由于物理特性和化學特性測試技術(shù)與其他物質(zhì)形態(tài)的物理化學特性測試差別不大，因此顆粒特性測試往往專指幾何形態(tài)測試，主要包括顆粒大小及其分布測試，顆粒形狀參數(shù)測試，顆粒比表面測試，孔及其分布測試.

　　2) 顆粒測試的理論基礎(chǔ)應該是顆粒形狀與顆粒大小的表征.由于顆粒形狀的復雜性，因此顆粒的表征是一個很困難的工作，很多學者為此付出了長期艱苦的工作，但是至今未見到一種表征方法為大多數(shù)行業(yè)所認可.但是有一點已經(jīng)取得共識的是用等效粒徑表示顆粒大小的概念已經(jīng)為大眾所接受：因此不同的原理的測試方法必然獲得不同的等效粒徑.只有球形顆粒，才能在不同的儀器上獲得相同的測試結(jié)果.這也是標準顆粒必須是球形的原因.

　　3)不同測試方法之間的比較問題顯然與顆粒形狀有關(guān)，如果不限定顆粒形狀，泛泛比較兩種不同原理儀器的測試結(jié)果誰是誰非沒有意義.但是，對于同一種顆粒，用不同的原理測試，是有規(guī)律可循的.有的公司為此提供了專用數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換軟件，受到了歡迎，需要注意的是，這種轉(zhuǎn)換僅適用于同一種物質(zhì)、用相同的加工方法制備的形狀類似的顆粒體系.

　　推論：既然顆粒大小測試與顆粒形狀有關(guān)，粒度儀利用不同原理測試同種顆粒產(chǎn)生的數(shù)據(jù)差異顯然可以提供顆粒形狀信息.利用此原理可能會產(chǎn)生一種實用的顆粒形狀測試方法和相關(guān)的儀器設備.

　　4)統(tǒng)一使用顆粒大小分級習慣術(shù)語：

　　納米顆粒1-100nm

　　亞微米顆粒0.1-1um

　　微粒、微粉1-100um

　　細粒、細粉100-1000um

　　粗！1mm

　　5)描述顆粒形狀時至少應提供的形狀參數(shù)：球形度、長徑比(長寬比)

　　6)用目數(shù)描述顆粒大小時應同時注明通過此篩孔的百分含量.如95%通過325目等等.

　　7)描述顆粒粒度分布時應同時注明分布類型和測試原理.如：體積分布、重量分布、個數(shù)分布;激光衍射/散射、沉降法、電阻法、篩分法、圖像分析、動態(tài)光散射、透氣法等等.以上幾個問題如果能取得共識，技術(shù)交流時一定會方便很多.